廣電計(jì)量可以做AECQ100認(rèn)證報(bào)告,AECQ101認(rèn)證報(bào)告,AECQ102認(rèn)證報(bào)告,AECQ200認(rèn)證報(bào)告

廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司(股票簡(jiǎn)稱:廣電計(jì)量,股票代碼:002967)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國(guó)化,、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu),專注于為客戶提供計(jì)量、檢測(cè),、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù),在計(jì)量校準(zhǔn),、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、電磁兼容檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國(guó)內(nèi)**水平.

廣電計(jì)是由廣州無(wú)線電集團(tuán)的內(nèi)部校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室改制發(fā)展而來(lái),始建于1964年,90年代以前主要為企業(yè)內(nèi)部主業(yè)配套服務(wù).為了更好地?fù)肀袌?chǎng),、實(shí)現(xiàn)發(fā)展,2002年5月注冊(cè)成立公司,重點(diǎn)轉(zhuǎn)向市場(chǎng)開展-化服務(wù).十多年來(lái),廣電計(jì)量不斷改革創(chuàng)新,走出來(lái)一條快速發(fā)展之路,公司的經(jīng)營(yíng)狀況發(fā)生了翻天覆地的變化,逐步成長(zhǎng)為計(jì)量檢測(cè)行業(yè)的**,一家國(guó)有控股的第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu).

廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院,在新能源汽車,、軌道交通、無(wú)線通信等領(lǐng)域,截止2019年9月:

ü主持編寫30多項(xiàng)**和地方計(jì)量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程;

ü承擔(dān)50多項(xiàng)國(guó)家,、省部級(jí)等重點(diǎn)科研項(xiàng)目;

ü獲得專利授權(quán)247項(xiàng),另取得軟件著作權(quán)119項(xiàng).

一,、什么是AECQ

AEC 是"Automotive Electronics Council:汽車電子協(xié)會(huì)"的簡(jiǎn)稱.

   克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì)(AEC),是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的,、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體,AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn).[AEC-Q100]是針對(duì)于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理,針對(duì)于分立器件的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q101],針對(duì)于LED的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q102],針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200]

二,、覆蓋的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q001 零件平均測(cè)試指導(dǎo)原則

AEC-Q002 統(tǒng)計(jì)式良品率分析的指導(dǎo)原則

AEC-Q003 芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則

JEDEC JESD-22 封裝器件可靠性測(cè)試方法

MIL-STD-883 微電子測(cè)試方式和程序

GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

EIA -469 破壞性的物理分析

MIL-STD-202 電子和電氣元器件測(cè)試方法

J-STD-002 可焊性規(guī)格

MIL-PRF-27 電感/變壓器測(cè)測(cè)試方法

JESD22-A121 測(cè)量錫及錫合金表面涂層的錫須生長(zhǎng)的測(cè)試方法

三、AEC-Q 認(rèn)證測(cè)試方法

加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(偏高濕度,、溫度循環(huán),、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存,、鹽霧測(cè)試,、濕度抵抗、機(jī)械沖擊,、變頻振動(dòng),、恒加速應(yīng)力、蓋板扭力測(cè)試,、芯片切斷,、跌落測(cè)試)

★加速壽命模擬測(cè)試(高溫工作壽命、早期失效率,、熱沖擊,、旋轉(zhuǎn)壽命、壽命終止模擬驗(yàn)證)

★封裝組合整裝測(cè)試(邦線切應(yīng)力/拉力,、錫球切應(yīng)力,、可焊性、引線完整性,、剪切強(qiáng)度,、斷裂強(qiáng)度,、抗焊接熱、端子強(qiáng)度)

★芯片晶圓可靠度測(cè)試(電遷移,、介質(zhì)擊穿,、熱載流子注入、負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性,、應(yīng)力遷移)

★電氣特性確認(rèn)測(cè)試(人體模式/機(jī)器模式靜電放電,、ESD、帶電器件模式靜電放電,、閂鎖效應(yīng),、電分配、故障分級(jí),、電熱效應(yīng)引起的柵漏,、電磁兼容、短路特性描述,、軟錯(cuò)誤率,、瞬時(shí)電傳導(dǎo)、短路失效電流持久性)

★瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試(部件平均測(cè)試,、統(tǒng)計(jì)良率分析)

★封裝凹陷整合測(cè)試(粗/細(xì)漏檢,、內(nèi)部水汽含量

四、設(shè)備能力

環(huán)境,、應(yīng)力篩選主要設(shè)備能力:

Ø高低溫試驗(yàn)箱-熱循環(huán)試驗(yàn)

Ø熱沖擊試驗(yàn)箱-熱沖擊試驗(yàn)

Ø振動(dòng)臺(tái)-機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)

Ø恒定加速度試驗(yàn)臺(tái)-恒定加速度試驗(yàn)

Ø可編程電源-電壓,、功率老煉試驗(yàn)

Ø電子負(fù)載-電流、功率老煉

Ø頻率發(fā)生器-老煉試驗(yàn)

Ø浪涌發(fā)生器-浪涌試驗(yàn)

Ø高溫真空箱

電測(cè)試主要設(shè)備能力:

Ø阻抗分析儀

Ø高阻計(jì)

Ø耐壓測(cè)試儀

Ø半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

Ø高精度圖示儀

Ø可編程電源

Ø電子負(fù)載

Ø示波器

Ø頻譜分析儀

Ø數(shù)字/模擬集成電路測(cè)試機(jī)臺(tái)

-檢測(cè)設(shè)備:

顆粒碰撞噪聲測(cè)試儀

氦質(zhì)譜檢漏儀

碳氟化合物粗檢漏儀

鍵合拉力測(cè)試儀

五,、服務(wù)內(nèi)容

Ø根據(jù)產(chǎn)品類型,交付階段,認(rèn)證類型提供詳盡合理的認(rèn)證方案

Ø根據(jù)制定方案,提供全面認(rèn)證測(cè)試服務(wù)

Ø出具**第三方測(cè)試報(bào)告

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