廣電計量可以做AEC-Q-100認證報告,AEC-Q-101認證報告,AEC-Q-102認證報告, AEC-Q-104認證報告，AEC-Q-200認證報告,，元器件篩選，破壞性物理分析,，NVH測試

廣州廣電計量檢測股份有限公司(股票簡稱:廣電計量,股票代碼:002967)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化,、綜合性的國有第三方計量檢測機構(gòu),專注于為客戶提供計量、檢測,、認證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù),在計量校準,、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)**水平.

1,、聚焦離子束技術(shù)（FIB）的定義

聚焦離子束技術(shù)（Focused Ion beam,，FIB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實現(xiàn)材料的剝離,、沉積,、注入、切割和改性,。隨著納米科技的發(fā)展,，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分,，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束,。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束技術(shù)（FIB）利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察,，成為了納米級分析,、制造的主要方法,。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改,、離子注入、切割和故障分析等,。

2.原理

聚焦離子束(Focused Ion beam, FIB)的系統(tǒng)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的顯微切割儀器,，目前商用系統(tǒng)的離子束為液相金屬離子源(Liquid Metal Ion Source,LMIS)，金屬材質(zhì)為鎵(Gallium, Ga),，因為鎵元素具有低熔點,、低蒸氣壓、及良好的抗氧化力,；典型的離子束顯微鏡包括液相金屬離子源,、電透鏡、掃描電極,、二次粒子偵測器,、5-6軸向移動的試片基座、真空系統(tǒng),、抗振動和磁場的裝置,、電子控制面板,、和計算機等硬設(shè)備，外加電場于液相金屬離子源,，可使液態(tài)鎵形成細小尖端,，再加上負電場(Extractor) 牽引尖端的鎵，而導(dǎo)出鎵離子束,，在一般工作電壓下,，尖端電流密度約為1埃10-8 Amp/cm2，以電透鏡聚焦,，經(jīng)過一連串變化孔徑 (Automatic Variable Aperture, AVA)可決定離子束的大小,，再經(jīng)過二次聚焦至試片表面，利用物理碰撞來達到切割之目的