LTE測試白卡

LTE測試卡,、4G測試卡、LTE-FDD卡,、LTE-TDD卡,、GSM測試卡,、CDMA測試卡、UIM測試卡,、RUIM測試卡,、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡,、CDMA2000測試卡,、手機測試卡(又稱白卡),，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試（LTE（Long Term Evolution,，長期演進)是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進,，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù),，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s）,，并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活,，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升,。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時延,，降低了建網(wǎng)成本和維護成本,。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國家及地區(qū)**廣泛的,，終端種類**豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn),。）。常用于LTE手機,、4G手機,、FDD手機、GSM手機,、UIM手機,、RUIM手機、CDMA2000手機,、配合綜合測試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對手機進行無干擾綜合測試,；手機在生產(chǎn)中需要對成品進行相關(guān)信號測試，卻要進行大規(guī)模屏敝,，需動用更多的人力物力及測試時間,，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測試卡可以實現(xiàn)信號至儀器到手機的**路徑,，讓測試環(huán)境更加簡潔,，很好的解決了這一繁鎖問題。測試卡可進行偶合測試,，誤碼率測試,、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測儀測試等,。

產(chǎn)品適用的測試儀器的品牌：

適用安捷倫,、安立、羅德·施瓦茨,、星河亮點,、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT,、CMU200,、CMW500、CMU55,、E5515C,、E828**、MT8820A,、NOISEKEN,、FLUKE、TEKTRONIC,、ADVANTES等國外,、國內(nèi)的各種測試儀器以及各手機廠或者營運商自建的網(wǎng)絡(luò)等。

產(chǎn)品品質(zhì)**：

  我們公司的LTE測試卡,、4G測試卡,、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡,、測試卡,、GSM測試卡、CDMA測試卡,、UIM測試卡,、RUIM測試卡、WCDMA手機測試,、TD-SCDMA測試卡,、CDMA2000測試卡、手機測試卡采用國際半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的芯片,，3V/5V兼容5-6觸點兼容設(shè)計,，適合一切手機.、配以COS系統(tǒng),，全面遵從4G手機,、3G對手機、2G手機等,，我司的測試卡的各項規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯,，**卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用,，采用超長壽命EEPROM,，**讀寫次數(shù)在10萬次以上。（3G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬次,，按一般生產(chǎn)線測量要求,，每部手機的讀寫次數(shù)為10次,，可測一萬部手機。）,，專利芯片保護層,，**卡片安全，防電子攻擊,。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD）,，防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC）,，耐高溫，45度可正常工作4小時以上,。75度溫度沖擊試驗.

我公司產(chǎn)品經(jīng)國家集成電路卡注冊中心授權(quán)使用進口三星,、日立、飛利浦等若干芯片[授權(quán)范圍：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx帶觸點IC卡芯片系列],。所有測試智能卡的物理特性,、耐化學(xué)性、觸點電特性均已通過國家電子計算機質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心及信息產(chǎn)業(yè)部IC卡質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心檢驗合格,，具有**性的品質(zhì)**,。