一、磁感應測量原理介紹

林上LS221便攜式測厚儀（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1367.html）就是采用磁性測厚法與渦流測厚法的原理制成的儀器,。采用磁感應原理時,，利用從測頭通過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度,。也能夠測定與之對應的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度。覆層越厚,，則磁阻 越大,，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,，原則上能夠有導磁基體上的非導磁覆層厚度,。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層資料也有磁性,，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳),。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器主動輸出測試電流或測試信號,。

林上LS221便攜式測厚儀參數(shù)：

測量原理      Fe：霍爾效應/NFe：電渦流效應

探頭類型      外置連線式

測量范圍      0.0-2000μm

分辨率  0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

測量精度      ≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位      μm / mil

測量間隔      0.5s

測量區(qū)域      Ø = 25mm

曲率半徑      凸面：5mm 凹面：25mm

基體厚度      Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

顯示      128×48點陣LCD

供電方式      2節(jié) 1.5V **堿性電池

工作溫度范圍     0℃ ～ 50℃

存儲溫度范圍     -20℃～60℃

主機尺寸      101*62*28 mm

探頭尺寸      71*26*22 mm

重量(含電池)      114g

二,、電渦流測量原理介紹

高頻溝通信號在測頭線圈中發(fā)生電磁場，測頭接近導體時,，就在其間構成渦流,。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大,，反射阻抗也愈大,。

與磁感應原理比較，**要區(qū)別是測頭不同,，信號的頻率不同,，信號的大小、標度聯(lián)系不同,。與磁感應測厚儀相同,，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,，容許過失1%，量程10mm的高水平,。還有的便攜式測厚儀采用的是超聲波測厚的原理,，不過這種測量原理的儀器測量精度不高。