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詳細(xì)介紹
電子元器件篩選(一次篩選,、二次篩選)
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時(shí)發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環(huán)境應(yīng)力加速試驗(yàn)及測試技術(shù),，對整批電子元器件進(jìn)行全批次非破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收,，提高產(chǎn)品使用可靠性,。
元器件篩選的目的：
剔除早起失效產(chǎn)品。
提高產(chǎn)品批次使用的可靠性,。
元器件篩選的特點(diǎn)：
篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn),。
不改變元器件固有失效機(jī)理和固有可靠性。
對批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選,。
篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定,。
元器件篩選測試項(xiàng)目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查,、X射線?破壞性檢查,。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏,、放射性?蹤檢漏,、濕度試驗(yàn)。
3.環(huán)境應(yīng)力篩選：振動(dòng),、沖擊,、離?加速度、溫度沖擊,、綜合應(yīng)力,。
元器件篩選覆蓋范圍：
電子元件：又叫被動(dòng)元件，顧名思義,，沒有源,，只是對外界信號(hào)的響應(yīng)，電阻,、電容,、電感、磁環(huán),、變壓器,、熔斷器、晶振,、陶振,，接插件，線纜等等;
電子器件：又叫有源器件,，即內(nèi)部實(shí)際上是有一個(gè)“電源”,，使用中要加一個(gè)外界電源和一個(gè)外界信號(hào)，可起到對信號(hào)放大，處理等功能;包括分立器件,，集成電路,，機(jī)電類器件。
分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件,，二/三極管,，晶體管，光電二極管,，發(fā)光二極管,，激光二極管……
集成電路：簡單理解由兩個(gè)以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路,，數(shù)字集成電路,，數(shù)模混合集成電路：
模擬集成電路：運(yùn)算放大器,，模擬乘法器,，電源基準(zhǔn)，放大器,，濾波器,，反饋電路，光耦,，晶體等,。
數(shù)字集成電路：處理器，單片機(jī),，比較器,，TTL，存儲(chǔ)器,，F(xiàn)PGA,，DSP等。
數(shù)?；旌霞呻娐罚篈D/DA等
機(jī)電類器件：繼電器,，MEMS等
依據(jù)各行業(yè)及領(lǐng)域客戶的需求，廣電計(jì)量精心打造出涵蓋計(jì)量校準(zhǔn),、可靠性與環(huán)境試驗(yàn),、電磁兼容檢測、化學(xué)分析,、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測,、環(huán)保檢測、產(chǎn)品認(rèn)證,、技術(shù)咨詢與培訓(xùn),、質(zhì)檢行業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā),、測控產(chǎn)品研發(fā)的**計(jì)量檢測技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過程,。
我們的設(shè)備能力：
1.老煉需要的設(shè)備：
集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng),、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、
電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng),、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng),、
*立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng),、
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng),、
二極管恒流老煉系統(tǒng),。
2.電測試需要的設(shè)備：
阻抗分析儀、高阻計(jì),、耐壓測試儀,、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、
高精度圖示儀,、可編程電源,、電子負(fù)載、示波器頻譜分析儀,。
3.目檢,、外觀檢查需要設(shè)備：
光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡,。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測,、內(nèi)部無損檢測、密封性測試,、內(nèi)部缺陷測試,。
覆蓋標(biāo)準(zhǔn)：
GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序
GJB 7243-2011電子元器件篩選技術(shù)要求
GJB 40247A-2006電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進(jìn)口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
MIL-STD-883G
廣電計(jì)量從1964年開始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,，歷經(jīng)五十余年的技術(shù)沉淀,，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展,，成為一家全國性,、綜合化、軍民融合的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu),，專業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn),、產(chǎn)品檢測及認(rèn)證、分析評價(jià),、咨詢培訓(xùn),、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC,、CMA,、CATL，以及“**四證”等**和?業(yè)眾多**機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì),。
元器件篩選業(yè)務(wù)聯(lián)系：張經(jīng)理：186-2090+8348;
郵箱：zhanghp grgtest.com
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時(shí)發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環(huán)境應(yīng)力加速試驗(yàn)及測試技術(shù),，對整批電子元器件進(jìn)行全批次非破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收,，提高產(chǎn)品使用可靠性,。
元器件篩選的目的：
剔除早起失效產(chǎn)品。
提高產(chǎn)品批次使用的可靠性,。
元器件篩選的特點(diǎn)：
篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn),。
不改變元器件固有失效機(jī)理和固有可靠性。
對批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選,。
篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定,。
元器件篩選測試項(xiàng)目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查,、X射線?破壞性檢查,。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏,、放射性?蹤檢漏,、濕度試驗(yàn)。
3.環(huán)境應(yīng)力篩選：振動(dòng),、沖擊,、離?加速度、溫度沖擊,、綜合應(yīng)力,。
元器件篩選覆蓋范圍：
電子元件：又叫被動(dòng)元件，顧名思義,，沒有源,，只是對外界信號(hào)的響應(yīng)，電阻,、電容,、電感、磁環(huán),、變壓器,、熔斷器、晶振,、陶振,，接插件，線纜等等;
電子器件：又叫有源器件,，即內(nèi)部實(shí)際上是有一個(gè)“電源”,，使用中要加一個(gè)外界電源和一個(gè)外界信號(hào)，可起到對信號(hào)放大，處理等功能;包括分立器件,，集成電路,，機(jī)電類器件。
分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件,，二/三極管,，晶體管，光電二極管,，發(fā)光二極管,，激光二極管……
集成電路：簡單理解由兩個(gè)以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路,，數(shù)字集成電路,，數(shù)模混合集成電路：
模擬集成電路：運(yùn)算放大器,，模擬乘法器,，電源基準(zhǔn)，放大器,，濾波器,，反饋電路，光耦,，晶體等,。
數(shù)字集成電路：處理器，單片機(jī),，比較器,，TTL，存儲(chǔ)器,，F(xiàn)PGA,，DSP等。
數(shù)?；旌霞呻娐罚篈D/DA等
機(jī)電類器件：繼電器,，MEMS等
依據(jù)各行業(yè)及領(lǐng)域客戶的需求，廣電計(jì)量精心打造出涵蓋計(jì)量校準(zhǔn),、可靠性與環(huán)境試驗(yàn),、電磁兼容檢測、化學(xué)分析,、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測,、環(huán)保檢測、產(chǎn)品認(rèn)證,、技術(shù)咨詢與培訓(xùn),、質(zhì)檢行業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā),、測控產(chǎn)品研發(fā)的**計(jì)量檢測技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過程,。
我們的設(shè)備能力：
1.老煉需要的設(shè)備：
集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng),、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、
電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng),、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng),、
*立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng),、
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng),、
二極管恒流老煉系統(tǒng),。
2.電測試需要的設(shè)備：
阻抗分析儀、高阻計(jì),、耐壓測試儀,、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、
高精度圖示儀,、可編程電源,、電子負(fù)載、示波器頻譜分析儀,。
3.目檢,、外觀檢查需要設(shè)備：
光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡,。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測,、內(nèi)部無損檢測、密封性測試,、內(nèi)部缺陷測試,。
覆蓋標(biāo)準(zhǔn)：
GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序
GJB 7243-2011電子元器件篩選技術(shù)要求
GJB 40247A-2006電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進(jìn)口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
MIL-STD-883G
廣電計(jì)量從1964年開始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站,，歷經(jīng)五十余年的技術(shù)沉淀,，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展,，成為一家全國性,、綜合化、軍民融合的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu),，專業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn),、產(chǎn)品檢測及認(rèn)證、分析評價(jià),、咨詢培訓(xùn),、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC,、CMA,、CATL，以及“**四證”等**和?業(yè)眾多**機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì),。
元器件篩選業(yè)務(wù)聯(lián)系：張經(jīng)理：186-2090+8348;
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