汽車(chē)車(chē)燈電子元器件AEC-Q102認(rèn)證
目前汽車(chē)產(chǎn)業(yè)中針對(duì)于零件資格及品質(zhì)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的就是AEC(汽車(chē)電子委員會(huì)),,針對(duì)于主動(dòng)零件所設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)為[AEC-Q100],針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200],,其規(guī)范了被動(dòng)零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品品質(zhì)與可靠度,。
AEC-Q102是基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理。
自2017年3月份以來(lái),,車(chē)燈光器件按照*新的AEC-Q102進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試,。如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果,那么將允許供應(yīng)商聲稱(chēng)他們的零件通過(guò)了AEC Q102認(rèn)證,。供應(yīng)商可以與客戶(hù)協(xié)商,,可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些,但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AEC Q102認(rèn)證,。
零件工作溫度等級(jí)的定義
零件工作溫度等級(jí)定義如下:
0等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃
1等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃
2等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃
3等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃
4等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍0℃-70℃
AEC-Q102認(rèn)證的要求及目的:
2.測(cè)試樣品:
1)批次要求:測(cè)試樣品應(yīng)該由認(rèn)證家族中有代表性的器件構(gòu)成,,由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測(cè)試,表1中列出的測(cè)試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成,,并在非連續(xù)成型批次中裝配,。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的,或者裝配加工線至少有一個(gè)非認(rèn)證批次,;
2)生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸。其他電測(cè)試場(chǎng)所可以在其電性質(zhì)證實(shí)有效后用于電測(cè)量。
3)測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來(lái)做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來(lái)做其他認(rèn)證測(cè)試,,而做過(guò)破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用,;
4)樣品尺寸要求
用于認(rèn)證測(cè)試的樣品尺寸與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中**的*小樣品尺寸和接受標(biāo)準(zhǔn)相。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來(lái)認(rèn)證,,則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須記錄并對(duì)使用者有可用性?,F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)**先滿(mǎn)足這些要求和表1的每個(gè)測(cè)試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿(mǎn)足這些要求,,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試,。
5)預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:表1中的附加要求欄為每個(gè)測(cè)試**了終端測(cè)試溫度(室溫、高溫和低溫),。溫度特殊值必須設(shè)有*差情況,,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的
通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置溫度等級(jí)極端。
6)應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:
測(cè)試失效定義為設(shè)備不符合測(cè)試的器件規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表,,任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn),、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào),。
汽車(chē)元器件失效分析項(xiàng)目:
①形貌分析技術(shù):體視顯微鏡,、金相顯微鏡、X射線透視,、聲學(xué)掃描顯微鏡,、掃描電鏡、透射電鏡,、聚焦離子束,。
②成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES,、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜,、色譜,、質(zhì)譜。
③電分析技術(shù):I-V曲線,、半導(dǎo)體參數(shù),、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù),、頻譜分析,、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針,、絕緣耐壓,、繼電器特性。
④開(kāi)封制樣技術(shù):化學(xué)開(kāi)封,、機(jī)械開(kāi)封,、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕,、化學(xué)腐蝕,、切片。
⑤缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn),、紅外熱像,、電壓襯度、光發(fā)射顯微像,、OBIRCH,。
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