技術(shù)性能及指標(biāo): 
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；
元素含量分析范圍為1PPm到99.99%,；
測(cè)量時(shí)間：100-300秒(可調(diào))；
同時(shí)分析鍍層層數(shù)：多達(dá)3層
鍍層檢測(cè)厚度范圍：0.05-40μm（視材料類型而有所不同）
采用微聚焦準(zhǔn)直技術(shù),，小可達(dá)Ф0.5mm,應(yīng)對(duì)小樣品和不規(guī)則樣品測(cè)試輕松自如,。
RoHS指令有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢出限高達(dá)1PPM，Cl高達(dá)50PPM,；
探測(cè)器：美國(guó)電致冷SDD半導(dǎo)體探測(cè)器,，能量分辨率：129±5eV；
高壓系統(tǒng) ：50KV/1mA,；
X光管：50W,，鈹窗，50kV/1000uA,。
產(chǎn)品特點(diǎn)
EDX8300H配備抽真空,，更好地應(yīng)對(duì)RoHS、無鹵等環(huán)保指令,，配置了真空測(cè)試系統(tǒng),，增加了元素測(cè)試范圍，探測(cè)器配備SDD的測(cè)試系統(tǒng)，特別是提高了Na,、Mg,、Al、Si等輕元素的檢出限,，度提高了,，同時(shí)在測(cè)試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復(fù)性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
整體結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì),，儀器美觀大方,。
采用美國(guó)的SDD探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷,，體積小,、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。
采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng),，有效提高峰背比,，讓測(cè)量更***。
一鍵式自動(dòng)測(cè)試,，使用更簡(jiǎn)單,，更方便，界面更人性化,。
七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng),，根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換。
多重防輻射泄露設(shè)計(jì),，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品**,。
優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到更大提高,，確保X射線源的運(yùn)行安全,。
***的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的***運(yùn)行,，有效延長(zhǎng)其使用壽命,，降低使用成本。
多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng),，并可通過軟件進(jìn)行全程監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定,、更安全。
***真空測(cè)試軟件,，是否抽真空可自由選擇,，真空度實(shí)時(shí)顯示，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì),，界面友好,，操作簡(jiǎn)便，所有控制均在輕點(diǎn)鼠標(biāo)之間。
本機(jī)采用USB2.0接口,，有效**數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速***傳輸,。
***的全自動(dòng)真空系統(tǒng),***屏蔽空氣對(duì)輕元素測(cè)試的影響,極大提高了輕元素的檢出限，同時(shí)也擴(kuò)大了檢測(cè)范圍,。
一體化真空腔體設(shè)計(jì),，有效地**了符合測(cè)試要求的真空度，同時(shí)提高了設(shè)備的可維性,。
抽真空測(cè)試和不抽真空測(cè)試轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單,，方便客戶使用；同時(shí)開蓋即解除真空,，安全,、簡(jiǎn)單實(shí)用。