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測(cè)光積分球是光學(xué)中一種通用的測(cè)量?jī)x器,，如照明燈學(xué),，纖維光學(xué)，激光技術(shù),，照相化學(xué),，材料分析和醫(yī)學(xué)技術(shù)，積分球在這些領(lǐng)域都獲得了廣泛的應(yīng)用,。由于積分球內(nèi)表面層具有高反射和散射得特性,，光均勻分布在球壁上，并作無(wú)規(guī)則的反射,，充分積分,，使能量得以準(zhǔn)確測(cè)量；

LIV（或PIV）是一種廣泛用于光電材料,、芯片,、器件性能評(píng)估的測(cè)試。多數(shù)情況下,，LIV測(cè)試環(huán)境中,，除了光功率、電流,、電壓測(cè)試,，設(shè)計(jì)人員和測(cè)試人員還會(huì)利用已搭建的系統(tǒng)，加入溫控和光譜測(cè)量的項(xiàng)目,。通過(guò)對(duì)這些被測(cè)件的光功率,、激勵(lì)電流/電壓,、光譜，以及上述參數(shù)隨溫度的變化,，經(jīng)過(guò)計(jì)算和數(shù)據(jù)/圖像處理,，可以獲得很多關(guān)鍵參數(shù)和圖表

創(chuàng)譜儀器LIV系列積分球采用模塊化搭建，集成不同的模塊來(lái)完成不同的應(yīng)用測(cè)試,，輸入/輸出端口具有SM05(0.535"-40)螺紋,，可以裝配透鏡組、光纖轉(zhuǎn)接件或任意SM05螺紋的組件,；探測(cè)器端口也是SM05螺紋,，用于兼容光電二極管；此端口呈凹陷狀,，以防止光電二極管的有源區(qū)直接暴露在入射光下,。

創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶要求搭建LIV測(cè)試系統(tǒng)，搭配探針臺(tái)等測(cè)試wafer或裸芯片或其他樣品,！

技術(shù)參數(shù)：

外殼采用航空鋁合金,，表面噴砂氧化黑，良好的機(jī)械性能,，高強(qiáng)度,，耐磨

內(nèi)部采用優(yōu)質(zhì)PTFE噴涂工藝,超高反射率

反射率：>94%（250-350nm）

          ≈99%（350-1900nm）

≈96%（1900-2500nm）注：可提供同批次計(jì)量院校準(zhǔn)計(jì)量證書(shū)

光譜范圍：250-2500nm

光功率**5W

NIST 溯源的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

內(nèi)徑30mm（可以根據(jù)客戶要求定制）,

配有兩個(gè)SM05標(biāo)準(zhǔn)接口，適用于多種應(yīng)用

出光口均勻性**98%

可以滿足多種器件的LIV集成測(cè)試