串聯(lián)四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯(lián)質(zhì)譜儀 (MS/MS),。ICP-MS/MS 在碰撞/反應池 (CRC) 前增加了一個額外的四極桿質(zhì)量過濾器 (Q1),，因此質(zhì)譜干擾問題可以通過反應池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決,。為了在單位 (1 u) 質(zhì)量分辨率下實現(xiàn)高離子傳輸效率，ICP-MS/MS 的兩個四極桿都必須在高真空條件下運行,。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)成功分析的**應用,。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的用途

ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)理想分析的高要求應用。這些應用可能需要極低的檢測限,，例如,，檢測半導體制程化學品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾,、雙電荷離子干擾,、相鄰質(zhì)量數(shù)重疊干擾以及高強度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規(guī)分析物,，如 Si,、P、S,、Cl,，甚至是 F。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的應用

高靈敏度和 MS/MS 模式 — 對半導體干擾實現(xiàn)出色的控制

ICP-MS/MS 為半導體和材料行業(yè)提供了更低的檢測限和更出色的干擾控制,。**制造商使用 8900 確保其高純度工藝化學品和材料的質(zhì)量,。

超高靈敏度、超低背景以及極短的 0.1 ms 駐留時間可確保準確檢測出**小納米顆粒 (NP),。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干擾,，從而實現(xiàn) SiO₂ 和 TiO₂ NP 的低濃度分析。

反應氣體模式可分離地質(zhì)年代學及核化學中的同質(zhì)異位素重疊

MS/MS 控制碰撞/反應池中的化學反應,，使研究人員能夠分離阻礙地球化學測量的同質(zhì)異位素重疊,。8900 可分離 ²⁰⁴Hg 與 ²⁰⁴Pb、⁸⁷Rb 與 ⁸⁷Sr 以及 ¹⁷⁶Lu 與 ¹⁷⁶Hf 等重疊,，實現(xiàn)準確的地質(zhì)年代學同位素比值分析,。
MS/MS 還可分離用于核研究和核退役測量的放射性核素的直接重疊，提高豐度靈敏度,，分離峰拖尾重疊（如 ²³⁸U 與 ²³⁷Np）,。

提供輕松應對生命科學新應用的性能和靈活性

安捷倫 ICP-MS/MS 儀器可以分離先前難以分析的元素（如 Cl,、P 和 S）的光譜重疊，徹底顛覆了生命科學研究,。使研究人員能夠?qū)Φ鞍踪|(zhì)和肽直接進行基于 S 和 P 雜元素的單獨化合物定量分析。