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詳細介紹
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,，并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同,，從而使膠片感光不一樣,，于是在底片上形成黑度不同的影像,，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗方法,。
X射線能在無損檢驗技術(shù)中得到廣泛應用的主要原因是：它能穿透可見光不能穿透的物質(zhì),；它在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律,；它能對某些物質(zhì)發(fā)生光化學作用、電離作用和熒光現(xiàn)象,。而且這些作用都將隨著X射線強度的增加而增加,。
X射線探傷是利用材料厚度不同對X射線吸收程度的差異，通過用X射線透視攝片法和工業(yè)電視實時成像,，從軟片和成像上顯出材料,、零部件及焊縫的內(nèi)部缺陷。如裂紋,、縮孔,、氣孔、夾渣,、未溶合,、未焊透等，確定位置和大小,。根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì),、大小和部位來評定材料或制品的質(zhì)量，從而防止由于材料內(nèi)部缺陷,、加工不良而引起的重大事故,。
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無損檢測方法,。X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm,。X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響,，可穿透物質(zhì),，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光,。
當X射線穿透物質(zhì)時,，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,，強度相應減弱,，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質(zhì)是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對射線能量衰減程度不同,，而引起射線透過工件后強度差異,，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像,，再對照標準評定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級別,。
X射線探傷除照相法外，還有X射線熒光屏觀察法,、電視觀察法,。
1．X射線照相法
2．X射線熒光屏觀察法
3．X射線電視觀察法
聯(lián)系方式
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