深圳市華海智能卡有限公司
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LTE測試白卡

LTE測試卡、4G測試卡,、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡,、GSM測試卡、CDMA測試卡,、UIM測試卡,、RUIM測試卡、WCDMA手機測試,、TD-SCDMA測試卡,、CDMA2000測試卡、手機測試卡(又稱白卡),，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進(jìn),，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動,。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s）,，并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等,，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升,。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化,，減小了系統(tǒng)時延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本,。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作,。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國家及地區(qū)***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn),。）,。常用于LTE手機、4G手機,、FDD手機,、GSM手機、UIM手機,、RUIM手機,、CDMA2000手機,、配合綜合測試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對手機進(jìn)行無干擾綜合測試；手機在生產(chǎn)中需要對成品進(jìn)行相關(guān)信號測試,，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝,，需動用更多的人力物力及測試時間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加,，測試卡可以實現(xiàn)信號至儀器到手機的路徑,，讓測試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題,。測試卡可進(jìn)行偶合測試,，誤碼率測試、具有齊備的VCC和RSTB,，可用于終端和綜測儀測試等,。

產(chǎn)品適用的測試儀器的品牌：

適用安捷倫、安立,、羅德·施瓦茨,、星河亮點、AGILENT8960,、ROHDE & SCHWARZ,、SUNLIGHT、CMU200,、CMW500,、CMU55、E5515C,、E828,、MT8820A、NOISEKEN,、FLUKE,、TEKTRONIC、ADVANTES等國外,、國內(nèi)的各種測試儀器以及各手機廠或者營運商自建的網(wǎng)絡(luò)等,。

產(chǎn)品品質(zhì)**：

  我們公司的LTE測試卡、4G測試卡,、LTE-FDD卡,、LTE-TDD卡、測試卡,、GSM測試卡,、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡,、WCDMA手機測試,、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡,、手機測試卡采用國際半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的芯片,，3V/5V兼容5-6觸點兼容設(shè)計，適合一切手機.,、配以COS系統(tǒng),，全面遵從4G手機、3G對手機,、2G手機等,，我司的測試卡的各項規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯，**卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力,。（GSM標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用,，采用超長壽命EEPROM，**讀寫次數(shù)在10萬次以上,。（3G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬次,，按一般生產(chǎn)線測量要求，每部手機的讀寫次數(shù)為10次,，可測一萬部手機,。），專利芯片保護(hù)層,，**卡片安全,，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層,，抗靜電（ESD），防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC）,，耐高溫,，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗.